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GeminiSEM 300扫描电子显微镜能同时举行Inlens二次电子成像和背散射电子成像，，，，，，，区分率可达0.7nm，，，，，，，可实现快速，，，，，，，高质量，，，，，，，无畸变的大规模成像和亚纳米区分成像。。。。。。。。配备100mm²窗口EDS探测器，，，，，，，能够快速完成点、线、面元素的定量测定；；；；；EBSD探测器，，，，，，，收罗无畸变、百万像素区分率的名堂，，，，，，，用于细腻的应变和相剖析。。。。。。。。

电感耦合等离子体发射光谱仪具卑锸直双视察结构（DSOI），，，，，，，提升了迅速度，，，，，，，同时降低了样品基体效应。。。。。。。。优异的ORCA光路结构，，，，，，，可同时读取130-770nm谱线信号，，，，，，，和通常的中蹊径光栅+棱镜交织色散的光学系统相比，，，，，，，光强度信号提升可高达5倍，，，，，，，紫外/远紫外区的迅速度提高无与伦比。。。。。。。。

SPECTROLAB S 拥有天下上第一个基于CMOS的探测器的纪录系统，，，，，，，该系统很是适合于高端金属剖析。。。。。。。。从微量元素到多基体应用，，，，，，，它提供了极其快速、高度准确、异常无邪的手艺选择。。。。。。。。

novAA 800F接纳集成的8灯座，，，，，，，具有编码灯识别功效，，，，，，，氘空心阴极灯配景校正，，，，，，，履历证的单、双光束模式和发射模式，，，，，，，以及最新的SiOSens半导体固态检测器。。。。。。。。 富厚智能的配件，，，，，，，最洪流平地提高了检测效率，，，，，，，极佳的清静性和剖析程序的用户友好性，，，，，，，适合高效通例剖析。。。。。。。。

68TM-30型万能质料试验机搭载的30kN和1kN载荷传感器在0.1～100%规模内精度可达0.5级。。。。。。。。整个试验系统可以举行集成化数据闭环控制和收罗、传感器的自动识别和标定。。。。。。。。配备的高精度非接触式视频引伸计AVE2区分率为0.5微米，，，，，，，有正交极化照明系统和CDAT电扇专利可消除职员、照明、气流对实验效果的影响，，，，，，，获得可重复性高准确的应变丈量效果。。。。。。。。

VR-5200 3D轮廓仪投射条纹状结构光，，，，，，，通过高细腻CMOS传感器使光线成像，，，，，，，丈量出各点的高度和位置。。。。。。。。配备的低倍镜头使丈量区域大至200×100×50 mm，，，，，，，高倍镜头使显示区分率小至0.1μm，，，，，，，可实现非接触批量化丈量产品形状，，，，，，，升沉，，，，，，，粗糙度。。。。。。。。

IM-8020接纳了双远心镜头,拥有轶群的边沿检测能力,可实现一键丈量具有差别高度差的样品尺寸，，，，，，，依附2000 万像素CMOS和边沿检测新算法，，，，，，，检测性能是古板机型的3 倍, 丈量区域可达300mm × 200mm，，，，，，，丈量速率是古板机型的2 倍. 只需数秒即可丈量完最多300 个部位。。。。。。。。能快速、准确、简朴的丈量，，，，，，，大幅度提高丈量精度，，，，，，，缩短丈量时间和人为误差。。。。。。。。

HELOS/BR型激光粒度仪设置了RODOS干法疏散系统，，，，，，，能有用的疏散粉体，，，，，，，知足特殊粒度检测要求，，，，，，，实现了快速且高重复性的粒度剖析。。。。。。。。丈量规模：0.3~175μm，，，，，，，丈量相对精度：＜0.3%。。。。。。。。

STA 449 F3具有结实、无邪、易于操作的特点，，，，，，，很是适条约时测试热效应和质量的转变，，，，，，，综合了高性能热流型DSC和超高迅速度天平，，，，，，，可以提供极致的称重与丈量规模。。。。。。。。